模块测试中还有一个重要的测试—时序测试。参考MSA的标准，基本的时序包括以下几个Ton/Toff,LOS_A ,LOS_D ,fault等。如下：

   今天说一下LOS timing的测试。

     LOS timing 是测量LOS跳变的时间，LOS_Assert Time是有光到无光时到LOS跳变为高的时间，LOS_Deassert Time为无光到有光的时候，LOS从高到低的跳变时间。测试架构如下。

注意事项：

1. LOS 分为AC LOS 和DC LOS ，测试AC LOS的时候光源需要加调制信号

2.测试需要考虑O/E convert 的转换时间，一般会比较快

3.光源可外接或者自环。

4.测试timing 的时候通常在灵敏度附近测试，但是也需要看饱和时候的值。很多TIA在饱和时候会有一个glitch的信号，会造成饱和时候的LOS timing超规格。可以利用主芯片的一些补偿功能或者其他的方式加以规避。

5.测试LOS timing超规格的时候要注意看LOS的外围是否有电容，AC LOS看LOS 外是否有电容，DC LOS的话需要看源信号RSSI的外围电路，如果滤波电容过大会影响LOS的 timing

6.LOS 通常是LA自带的功能，如果LA不能实现，但有的时候LA只能实现AC，无法实现DC，这样RSSI需要接入到MCU进行处理，最好通过比较器来实现，以保证LOS的时序

7.如果没有O/E convert，通常的做法就是通过Tx disable 来控制光源，测试Tx disable电平的转换到LOS的电平转换的时间，这个时间就是Ton/off+LOS on/off的时间，

8. OLT的LOS时序更为复杂，与Reset信号也相关，后续专门做解释。

    下图为一个常规的LOS_on，LOS_off的测试图形，供参考。[敏感词]为光信号，青色为LOS信号